Портал аналитической химии

Методики, рекомендации, справочники

Анализ новых материалов - 0171
Он-лайн библиотека - Анализ новых материалов

НАВИГАЦИЯ

ОГЛАВЛЕНИЕ

101

102

103

104

105

106

107

108

109

110

111

112

113

114

115

116

117

118

119

120

121

122

123

124

125

126

127

128

129

130

131

132

133

134

135

136

137

138

139

140

141

142

143

144

145

146

147

148

149

150

151

152

153

154

155

156

157

158

159

160

161

162

163

164

165

166

167

168

169

170

171

172

173

174

175

176

177

178

179

180

181

182

183

184

185

186

187

188

189

190

191

192

193

194

195

196

197

198

199

200

Страницы 1..100

Страницы 101..200

Страницы 201..221

Применение нерегистрирующего микрофотометра. Микрофотометр устанавливают так, чтобы спектр фокусировался на щель. Полное преломление получается в том случае, когда пучок света падает на прозрачную пластинку. Измеряют пик пропускания отдельных линий и пересчитывают показания в соответствующую логарифмическую функцию. При этом для длин волн более 2700 А используют формулу Зайделя для плотности почернения:

а для длин волн менее 2700 А применяют Р-функции:

где d0 — полное преломление (чистое стекло), ad — максимальное преломление для данной линии (см. примечание 2).

Строят калибровочные графики в координатах разность преобразованных плотностей линий элементов и линии внутреннего эталона в спектре эталона — логарифм концентрации (см. примечание 3).

Для определения содержания того или иного элемента в пробе вычисляют разности преобразованных плотностей и, нанося их на калибровочный график, находят концентрацию.

Использование однолучевого микрофотометр а. Настраивают микрофотометр так, чтобы спектр фокусировался на щель, а пропускание измеряемых линий превышало 60.%.

Измеряют разность между высотой пика (на микрофотометре) элемента и уровнем фона, а также пика внутреннего эталона и фона. Строят калибровочный график в координатах отношение максимальных величин пропусканий — концентрация элемента.

Таблица 6. Типичные стандартные отклонения

Элементы

Содержание. %•№

Стандартное отклонение. % Ы01

Число опытов

Элементы

Содержание, %-10-s

Стандартное отклонение, % Ы04

Число опытов

Al

60

4,3

35

Si

60

4,2

20

по

5,0

35

125

5,5

20

Fe

700

34

15

Ti

50

2,1

35

1500

73

15

100

3,9

35

Примечания. 1. Чтобы избежать загрязнения пробы посторонними компонентами сплава, полировку или зачистку проводят наждачной бумагой, предназначенной только для анализа данного сплава. Эти же меры применяют при подготовке противоэлектродов. При определении железа образец 30 мин выдерживают в горячей соляной кислоте (1 : 1).

2. Можно использовать таблицы зависимостей плотностей Зайделя и функций P от преломления гальванометра.

3. Применение бумаги с полулогарифмической сеткой дает возможность избежать необходимости рассчитывать логарнфм. ы концентрации.

 

Сейчас на сайте

Сейчас 100 гостей онлайн

Методы исследования

Определяемые объекты

Аналитическая химия

На заметку

You are here: